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IONTOF / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS
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IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
,药品和有机组织领域。全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
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TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
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Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪
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二次离子质谱IONTOFTOF-SIMS M6 Hybrid SIMS 应用于纳米材料
点击查看下载二次离子质谱IONTOFTOF-SIMS M6 Hybrid SIMS 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代
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二次离子质谱 / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS 应用于多组学
点击查看下载二次离子质谱 / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS 应用于多组学相关资料,进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5
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/ 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS二次离子质谱 应用于功能材料
点击查看下载 / 超高分辨TOFSIMS / TOF-SIMS M6 Hybrid SIMS二次离子质谱 应用于功能材料相关资料,进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5
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IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于医学
全新 M6— — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪器
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IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于微电子
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用
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